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非接触式太阳能硅晶圆量测仪
MX203-6-41q
♦ 非接触式电容感应量测方式
♦ 最小刻度为0.1μm,重复性误差0.25μm
♦ 可测量厚度, TTV, 翘曲度Bow,Warp
♦ 支持Wafer Studio 3D显示功能
冲成股份有限公司 / JC's Chunson Limited
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