繁體

 

简体

 

English

 

桌上型光學多層厚度量測儀 SemDex 295

 

 

 

 簡便的手動裝載
 全自動測量
 厚度和彎曲翹曲度測量一步完成
 緊湊型臺式測量設備,帶有優化的封裝方案
 由於採用轉檯而能夠獲得高速率資料記錄
 軟體易操作:WaferSpect
回上一頁