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晶片量測儀 MX604-ST

 

 

 

 太陽能晶片可量測之最大尺寸為156mm
 半導體晶片可量測之尺寸2"-8"
 量測速度快,一片只需0.3秒
 可單機操作,或外接個人電腦使用

 
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