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全自动LED Wafer量测分类仪

SemDex AR13

       

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♦ 可量测2"-8"LED Wafer之TTV, LTV, Bow/Warp, Roughness

♦ 最快可达100 wafers/hr

♦ 取样量测点数为每秒4000点

♦ 可选配SECS/GEM传输接口       

 冲成股份有限公司 / JC's Chunson Limited         

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