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晶片量測儀
MX604-ST
♦ 太陽能晶片可量測之最大尺寸為156mm
♦ 半導體晶片可量測之尺寸2"-8"
♦ 量測速度快，一片只需0.3秒
♦ 可單機操作，或外接個人電腦使用
冲成股份有限公司 / JC's Chunson Limited
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