產品名稱：光學式晶圓厚度、翹曲度量測儀

產品型號：SemDex 301

應用範圍：多層厚度量測、3D穿孔量測、 切割道量測、粗糙度量測

產品名稱：全自動光學式晶圓厚度、翹曲度量測儀

產品型號：SemDex A31/A32

應用範圍：多層厚度量測、3D穿孔量測 

產品名稱：全自動LED Wafer量測分類儀

產品型號：SemDex AR13

應用範圍：翹曲度量測、 多層厚度量測、膜厚量測、表面粗糙度量測