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半导体-上游拉晶切片

产品名称:非接触式晶圆量测仪

产品型号:MX203 Series 

应用范围:厚度、翘曲度量测

产品名称:非接触式晶圆量测仪

产品型号:MX301 Series

应用范围:厚度、翘曲度量测

产品名称:芯片量测仪

产品型号:MX604-ST

应用范围:阻值量测

产品名称:200mm多功能非接触式晶圆厚度& 阻值 & P/N型态量测

产品型号:MX608

应用范围:阻值量测

产品名称:全自动晶圆量测分类机

产品型号:MX2012-6012 

应用范围:厚度、 TTV、Bow、Warp、阻值量测 

产品名称:高分辨率之as cut晶圆厚度与外观量测仪

产品型号:MX7012

应用范围:平坦度量测

半导体-中游晶圆制造

产品名称:光学式晶圆厚度、翘曲度量测仪

产品型号:SemDex 301

应用范围:多层厚度量测、3D穿孔量测、切割道量测、粗糙度量测

产品名称:全自动光学式晶圆厚度、翘曲度检测设备

产品型号:SemDex A32

应用范围:多层厚度量测、3D穿孔量测

产品名称:全自动12"晶圆量测仪

产品型号:MX2012-69-RA-1L

应用范围:厚度、TTV、Bow、Warp、Stress 量测

半导体-下游封装测试

产品名称:芯片研磨机

产品型号:MPS 2 R300DCS

应用范围:晶圆研磨

产品名称:全自动芯片研磨抛光机

产品型号:MPS 2 R400DS

应用范围:晶圆研磨

产品名称:光学式晶圆厚度、翘曲度量测仪

产品型号:SemDex 301

应用范围:多层厚度量测、3D穿孔量测、切割道量测、粗糙度量测

半导体-晶圆再生

产品名称:全自动12"晶圆量测仪

产品型号:MX2012-69-RA-1L

应用范围:厚度、TTV、Bow、Warp、Stress 量测

产品名称:全自动晶圆量测分类机

产品型号:MX2012-6012 

应用范围:厚度、 TTV、Bow、Warp、阻值量测 

产品名称:全自动晶圆量测分类仪

产品型号:MX204-608

应用范围:厚度、 TTV、Bow、Warp、电阻率量测

产品名称:芯片量测仪

产品型号:MX604-ST

应用范围:阻值量测

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